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SoCテスト・システム

 

【テキスト】T2000 OTPL Inline Programming

概要	T2000テスト・システムを学習する上での入り口として位置づけられます。
前提知識	デバイス試験の基礎知識を習得している方（DCコンタクト・テスト／ファンクショナル・テスト） ピン・エレクトロニクス、電源供給、パラメトリック測定やパターン生成を含むテスタ・ハードウエアと操作の基礎知識を習得している方 オブジェクト指向プログラミングを習得している方
修得事項	OTPLを使ったデバイス試験プログラムの、基本的な構成と編集に関する知識と操作
学習内容	T2000ハードウエアの紹介 ソフトウエアとOTPLの紹介 ピン・ファイルとソケット・ファイル テスト・プラン・フロー DCコンタクト・テスト DPSの共通機能 スタティックICCテスト 1GDMの紹介 ファンクショナル・テスト ロジック・パターン ダイナミックIDD リミット・セット 外部トリガとVバンプ GUIツールの補足 ビン定義 スクリプト・ベースド・コマンド・ツール パターン・リスト
	注意事項 本コースは、T2000システム・ソフトウエア R3.02で対応された書式 (*1) を基に解説します。 このため、下記内容については触れません。下記内容は T2000 Basic OTPL コースで解説します。 ? TestCondition, TestConditionGroupブロック (*1)：テスト・インスタンス・パラメータのインライン指定、インライン・パターン・リスト指定

【テキスト】T2000 OTPL Core

概要	T2000 System Software(TSS) R3.xxでOTPL言語を用いた簡単なテスト・プランの作成方法を修得する ※T2000テスト・システムを学習する上での入り口として位置づけられています。
前提知識	デバイス試験の基礎知識を習得している方（DCコンタクト・テスト／ファンクショナル・テスト） ピン・エレクトロニクス、電源供給、パラメトリック測定やパターン生成を含むテスタ・ハードウェアと操作の基礎知識を習得している方 オブジェクト指向プログラミングを習得している方
修得事項	OTPLを使ったデバイス試験プログラムの、基本的な構成と編集に関する知識と操作
学習内容	Hardware Overview Software Overview OTPL Overview Pin Description File and Socket File Test Plan Flows DC Contact Test DPS150A Static ICC Test Functional Test 800Mbps Digital Module Pattern Generator Dynamic IDD Test Binning Script Based Command Pattern Lists

【テキスト】T2000 ATCP Application Core

概要	T2000 System Software(TSS) R3.xxでGUIオペレーションを通し、OTPL言語を用いたテスト・プランの読み方、編集方法を修得する ※T2000テスト・システムを学習する上での入り口として位置づけられています。
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識 C++言語についての基礎的な知識
修得事項	T2000の基本オペレーション テスト・プランとテスト・クラス Test Program IDEの使い方 ATCPを使ったサンプル・プログラムの作成 ATCPテスト・クラスの概要 OTPLテスト・プランの文法／修正方法 テスト・クラスの文法／修正方法
学習内容	General Description of T2000 Hardware, Software Generate ATCP Package Light Simulation Mode (LSM) and Test Program IDE (TPIDE) ATCP Sample Program and Statistical Analysis Tool (SATool) Execute Functional Test and its Programming Pattern Editor, Test Condition Editor, WaveTool (Logic Analyzer) ATCP Test Class, ATF Kit Usage of RscUserVars, ValDUT Add Test Parameters to PreHeader

【テキスト】T2000プログラミング テストクラス基礎

概要	T2000テスト・システムのテスト・クラス作成の基礎を習得
前提知識	トレーニングテキストの「T2000プログラミング OTPL基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方。 C++言語の基礎概念（クラス、継承、オーバーライド、オーバーロードなど）
修得事項	T2000テスト・システムのテスト・クラス作成の基礎を習得
学習内容	テスト・クラス概説 テスト・クラスを新規に作成 ファンクショナル・テストのテスト・クラスを作成 テスト・クラスに様々な機能を追加 テスト・クラスにテスト・パラメータを追加

【テキスト】T2000プログラミング テストクラス応用（デジタル編）

概要	T2000テスト・システムにおいて、アドバンテストが提供するATF Kitを使用して、デジタル系の試験を行なうテスト・クラスを作成する方法について解説しています。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000プログラミング テストクラス基礎」相当の知識 C++言語の基礎概念（クラス、継承、オーバーライド、オーバーロードなど）
修得事項	ATF Kitを使用して、デジタル系の試験を行なうテスト・クラスを作成する方法
学習内容	ファンクショナル試験を実行する DCパラメトリック試験を実行する マージン試験とシュムー・プロットを実行する サーチ試験を実行する 平均電源電流試験を実行する データ・ログを出力する APIを使用するときの注意点

【テキスト】T2000プログラミング テストクラス応用（デジタル編） サンプル・プログラム集

概要	テスタ・トレーニング・テキスト「T2000プログラミング テストクラス応用（デジタル編）」の補助教材として作成されたサンプル・プログラム集です。 テスト・クラスの作成に必要なATF Kit APIを理解するためのサンプル・プログラムを提供します。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000プログラミング テストクラス基礎」相当の知識 C++言語の基礎概念（クラス、継承、オーバーライド、オーバーロードなど）
修得事項	ATF Kitを使用して、デジタル系の試験を行なうテスト・クラスを作成する方法
学習内容	ATFクラス・ライブラリの分類 ATFクラス・ライブラリを使用したサンプル・プログラム 付属ソース・コード

【テキスト】T2000プログラミング テストクラス応用（RF編）

概要	T2000のATF Kitを用いて主に12GWSGAモジュールやBBWGDモジュールを使用してRF測定をするテスト・クラスの作成方法を解説しています。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000プログラミング テストクラス基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方。 RF試験に必要な概念（周波数ドメイン、時間ドメイン、FFT）を理解されている方。
修得事項	T2000 12GWSGAモジュールを中心にした、RFデバイステストのためのテスト手法、テストクラスの作成方法、およびそのデバッグ方法を取得
学習内容	テスト・クラス・ウィザードを使用したRFテスト・クラスの作成概要 トランスミッタ出力試験 トランスミッタ隣接チャンネル漏洩電力試験 トランスミッタC/N試験 レシーバ出力レベル試験 レシーバIP3試験（付録 プログラム・コード） User_RFTxOutputPowerTestクラス User_RFTxACPTestクラス User_RFTxCNTestクラス User_RFRxOutPutPowerTestクラス User_RFRxIP3Testクラス テスト・プラン・ファイル

【テキスト】T2000 IPS Core

概要	T2000テスト・システムで車載用・産業用及びパワーマネジメント用デバイスをテストするソリューションの基礎知識を習得する * T2000 IPS (Integrated Power device test Solution) T2000で車載用・産業用及びパワーマネジメント用デバイスをテストするソリューション
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	T2000テスト・システムで車載用・産業用及びパワーマネジメント用デバイスをテストするソリューションの基礎知識
学習内容	T2000 IPS Overview OTPL and ATCP IPS ATCP Generation DC Parametric Test with IPS Modules Threshold Search Test with IPS Modules Analog Measurement with IPS Modules Time Measurement with IPS Modules

【テキスト】T2000 ISSプログラミング基礎

概要	T2000および1.2GICAPでCMOSイメージ・センサの撮像試験をおこなうテスト・プログラムの作成方法を習得する * T2000 ISS (Image Sensor test Solution) T2000でCMOSイメージ・センサをテストするソリューション
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	OTPLを用いた撮像試験用テスト・プラン・プログラムの作成方法の習得 C++を用いた画像処理クラスの作成方法の習得
学習内容	デバイス概要 ハードウエア概要 T2000 システム・ソフトウエア概要 テスト・プログラム概要 ソケット・プログラムの作成 撮像試験用テスト・プラン・プログラムの作成 画像処理クラスの作成

【テキスト】T2000 ISS コア・コース（3GICAP編）

概要	T2000および3GICAPでCMOSイメージ・センサの撮像試験をおこなうテスト・プログラムの作成方法を習得する * T2000 ISS(Image Sensor test Solution) T2000でCMOSイメージ・センサをテストするソリューション
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	OTPLを用いた撮像試験用テスト・プラン・プログラムの作成方法の習得 C++を用いた画像処理クラスの作成方法の習得
学習内容	デバイス概要 ハードウエア概要 T2000 システム・ソフトウエア概要 テスト・プログラム概要 ソケット・プログラムの作成 撮像試験用テスト・プラン・プログラムの作成 画像処理クラスの作成

【テキスト】T6600シリーズ TDLプログラミング基礎

概要	TDLを用いたテスト関数形式による簡単なプログラム作成方法の習得
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 UNIXの基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	TDLを用いたテスト関数形式による簡単なプログラム作成方法の習得
学習内容	ハードウエア概要／ソフトウエア概要 デバイスピン定義 DCパラメトリックテストのテストアイテム作成 パターンプログラム ファンクション試験のテストアイテム作成 パターンを使用するDCパラメトリックテストのテストアイテム作成

LCDデバイス・テスト・システム

 

【テキスト】T6300シリーズ LCDテスタ基礎

概要	T6300シリーズ (T6371/T6372) LCDドライバ・テスト・システムのプログラミング手法の習得
前提知識	トレーニングテキストの「T6600シリーズ TDLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	LCDドライバICのプログラミング手法の習得
学習内容	ハードウエア概要／ソフトウエア概要 LCDピンのDCパラメトリック試験 LCDドライバ電圧の試験（LCDコンパレータ） LCDドライバ電圧の試験（MDGT）

【テキスト】T6300 Series LCD Test System Elementary Course T6373 Training Textbook

概要	T6373 LCDドライバ・テスト・システムのプログラミング手法の習得
前提知識	トレーニングテキストの「T6600シリーズ TDLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	LCDドライバICのプログラミング手法の習得
学習内容	System Overview / Software Overview DC Parametric Test for LCD Pin LCD Driver Voltage Test (LCD Comparator) LCD Driver Voltage Test (MDGT)

【テキスト】T6300 Series LCD Tester Elementary Course Array Functions Training Textbook

概要	T6300シリーズ LCDドライバ・テスト・システムで使用する配列関数の紹介
前提知識	トレーニングテキスト「T6300 Series LCD Test System Elementary Course T6373 Training Textbook」の内容を理解していること
修得事項	T6300シリーズLCDドライバ・テスト・システムで使用する配列関数の使い方
学習内容	T6300シリーズLCDドライバ・テスト・システムのMDGTを使用して、LCDドライバ電圧をキャプチャした後に演算処理を行う配列関数について学習します。 本テキストの内容は、トレーニング・テキスト「T6300シリーズ LCDテスタ基礎」の付録部分と同等です。

アドバンスド・ミクスドシグナル・テスト・システム

 

【テキスト】T7700シリーズ AMSテスタ基礎

概要	TDLを用いたテスト関数形式による簡単なプログラムの作成方法やViewpointのオペレーションの基礎を習得する。
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 UNIXの基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	TDLを用いたテスト関数形式による簡単なプログラムの作成方法 Viewpointのオペレーションの基礎
学習内容	ハードウエア概要／ソフトウエア概要 テスト・プランの作成とシンボル名定義 テスト・アイテム作成（DCパラメトリック・テスト） テスト・アイテム作成（ダイナミック・ファンクショナル・テスト） TDLフレームワーク作成

【テキスト】T7700シリーズ ミクスド標準 アナログDC基礎編

概要	T7700シリーズのミクスド・シグナル・オプションのしくみ、アナログDC試験のプログラム内容（A/DコンバータとD/Aコンバータ）を習得する。
前提知識	A/DコンバータやD/Aコンバータについての基礎的な知識をお持ちの方
修得事項	T7700シリーズのミクスド・シグナル・オプションのしくみ アナログDC試験のプログラム内容（A/DコンバータとD/Aコンバータ）
学習内容	システム概要 A/Dコンバータの直線性試験 D/Aコンバータの直線性試験 配列演算関数

【テキスト】T7700シリーズ ミクスド標準 アナログAC基礎編

概要	T7700シリーズのミクスド・シグナル・オプションのしくみ、アナログAC試験のプログラム内容（A/DコンバータとD/Aコンバータ）を習得する。
前提知識	A/DコンバータやD/Aコンバータについての基礎的な知識をお持ちの方
修得事項	T7700シリーズのミクスド・シグナル・オプションのしくみ アナログAC試験のプログラム内容（A/DコンバータとD/Aコンバータ）
学習内容	A/DコンバータのアナログAC試験 D/AコンバータのアナログAC試験

メモリ・テスト・システム

 

【テキスト】T5000 Series ATL Programming Basic

概要	ATL（Advanced Test Language）を用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラム作成方法を習得する。 ※ T5833、DDR SDRAM/NAND FLASHをベースに解説。
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 Linux（centOS）の基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	ATLを用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラムの作成方法の習得
学習内容	Overview DC Parametric Test Dynamic Functional Test Pattern Program How to Execute Program in FutureSuite System Calibration Socket Program Scramble Program

【テキスト】T5000 Series MCI Programming Basic

概要	MCI (Macro Control Interface) を用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラム作成方法を習得する。 ※ T5833、DDR SDRAM/NAND FLASHをベースに解説。
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 Linux（centOS）の基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	MCIを用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラムの作成方法の習得
学習内容	Overview MCI Program Basic Configuration Device Pin Definition DC Parametric Test Dynamic Functional Test Pattern Program How to Execute Program in FutureSuite System Calibration Socket Program Scramble Program