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12月16日(水)~18日(金)に東京ビッグサイトで行われる「SEMICON Japan 2015」に出展いたします。 最新の半導体試験ソリューションから、既存テスト・システムの更なる生産性向上を実現するソリューションまで幅広く展示いたします。 是非この機会に、アドバンテストの幅広い製品ポートフォリオをご覧ください。皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。
展示会名称 | SEMICON Japan 2015 |
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会 期 | 2015年 12月 16日(水)~ 18日(金) 10:00 - 17:00 |
会 場 | 東京ビッグサイト 東京都江東区有明3-11-1 |
アドバンテスト展示ブース | HALL2 前工程ゾーン 2545番 |
出展製品
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EVA100 Digital Solution
多種多様なデジタルICに最適のアーキテクチャで IoT デバイスのテスト効率向上に貢献
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EVA100
IoTに不可欠なアナログ&ミクスドシグナルIC、センサの設計評価から量産まで同一環境で強力にサポート
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T5833
モバイルDRAMとNANDフラッシュ・メモリ双方の試験に対応できる、新しい多機能 メモリ・テスト・システム
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T5851
高速メモリUFS (Universal Flash Storage) や、1チップPCIe SSD向けメモリ・テスト・システム
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TS9000 TDRオプション
テラヘルツ技術による配線品質解析システム。5µmの測定分解能で故障箇所を検出し、CADデータ上にマッピング