Probo No.40 (2013年7月発行) Probo No.40 (2013年7月発行)

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* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。

技術論文

タイトル/執筆者
同時双方向通信が可能な8-Gbps CMOSピンエレクトロニクスハードウエアマクロ
テクノロジー開発本部 第5開発部 FTテクノロジー開発1課 小島 昭二 ほか
RNA:デジタル波形再構成のための先進的位相トラッキング手法
元Verigy COE(Center of Expertise)所属 アプリケーション・エンジニア 高速デジタルおよびメモリテスト スペシャリスト 伊藤 卓 ほか
高出力ファイバレーザの開発
株式会社アドバンテスト研究所 塚原 直哉 ほか
磁界共鳴型ワイヤレス給電における共振調整手法
新企画商品開発室 WiPSプロジェクト 圓道 祐樹 ほか

アプリケーション

タイトル/執筆者
半導体検査工程のFactory Automation環境「ECOTsTM」について
システムソリューション本部 共通ソリューション 高野 克也 ほか
T2000 IMSによる高効率な超多数個同時測定の実現
SoCテスト事業本部 第2開発部 PFA課 原 幸司

その他

タイトル/執筆者
テスト工程における3D ICパッケージハンドリングの課題
Director, Handling Systems, Advantest America, Inc Zain Abadin

IPニュース

「繰り返し周波数制御装置」