Probo No.40 (2013年7月発行)
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* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。
技術論文
タイトル/執筆者 |
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同時双方向通信が可能な8-Gbps CMOSピンエレクトロニクスハードウエアマクロ テクノロジー開発本部 第5開発部 FTテクノロジー開発1課 小島 昭二 ほか |
RNA:デジタル波形再構成のための先進的位相トラッキング手法 元Verigy COE(Center of Expertise)所属 アプリケーション・エンジニア 高速デジタルおよびメモリテスト スペシャリスト 伊藤 卓 ほか |
高出力ファイバレーザの開発 株式会社アドバンテスト研究所 塚原 直哉 ほか |
磁界共鳴型ワイヤレス給電における共振調整手法 新企画商品開発室 WiPSプロジェクト 圓道 祐樹 ほか |
アプリケーション
タイトル/執筆者 |
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半導体検査工程のFactory Automation環境「ECOTsTM」について システムソリューション本部 共通ソリューション 高野 克也 ほか |
T2000 IMSによる高効率な超多数個同時測定の実現 SoCテスト事業本部 第2開発部 PFA課 原 幸司 |
その他
タイトル/執筆者 |
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テスト工程における3D ICパッケージハンドリングの課題 Director, Handling Systems, Advantest America, Inc Zain Abadin |
IPニュース
「繰り返し周波数制御装置」