No.55 (December, 2020)
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* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。
技術論文
| タイトル／執筆者 |
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| 強誘電体薄膜を用いた光集積回路 (株)アドバンテスト研究所 阿部 峻佑 ほか |
| STT-MRAMテストのための新しい磁場印加メモリ・テスト・システム 営業本部 システムソリューション統括部 メモリＳＥ部 ＧＭＳ課 田村 亮 ほか |
| 高電圧DC試験におけるディジタル制御技術の開発 ＡＴＥビジネスグループ テクノロジー開発本部 テクノロジー統括部 第８開発部 ＤＣコア技術課 清水 貴彦 ほか |
| 半導体試験装置製造のメトロロジー Advantest Europe GmbH ATE Business Group 93000 Business Unit Piotr Skwierawski ほか |
技術解説
| タイトル／執筆者 |
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| M4841 空冷Active Thermal Control機能の開発 DH事業本部 DH開発統括部 DT開発部 先行技術開発課 山田 祐也 ほか |
| MIPI D-PHY/C-PHYに対応したCMOSイメージセンサ・キャプチャ・モジュールの開発 ＡＴＥビジネスグループ T2000事業本部 ＡＤＴプロダクトユニット ＡＤＴ開発部 ＩＳＤ開発課 有山 雄司 |
アプリケーション
| タイトル／執筆者 |
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| 8GDMによるC-PHY信号＋ジッタ生成 営業本部 システムソリューション統括部 T2000 SE部 ＣＩＳ課 鈴木 健吾 |