No.55 (December, 2020)
Proboをご閲覧いただくためには登録が必要です。
下記のボタンよりご登録をお願いいたします。
* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。
技術論文
タイトル/執筆者 |
---|
強誘電体薄膜を用いた光集積回路 (株)アドバンテスト研究所 阿部 峻佑 ほか |
STT-MRAMテストのための新しい磁場印加メモリ・テスト・システム 営業本部 システムソリューション統括部 メモリSE部 GMS課 田村 亮 ほか |
高電圧DC試験におけるディジタル制御技術の開発 ATEビジネスグループ テクノロジー開発本部 テクノロジー統括部 第8開発部 DCコア技術課 清水 貴彦 ほか |
半導体試験装置製造のメトロロジー Advantest Europe GmbH ATE Business Group 93000 Business Unit Piotr Skwierawski ほか |
技術解説
タイトル/執筆者 |
---|
M4841 空冷Active Thermal Control機能の開発 DH事業本部 DH開発統括部 DT開発部 先行技術開発課 山田 祐也 ほか |
MIPI D-PHY/C-PHYに対応したCMOSイメージセンサ・キャプチャ・モジュールの開発 ATEビジネスグループ T2000事業本部 ADTプロダクトユニット ADT開発部 ISD開発課 有山 雄司 |
アプリケーション
タイトル/執筆者 |
---|
8GDMによるC-PHY信号+ジッタ生成 営業本部 システムソリューション統括部 T2000 SE部 CIS課 鈴木 健吾 |