No.55 (December, 2020) No.55 (December, 2020)

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* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。

技術論文

タイトル/執筆者
強誘電体薄膜を用いた光集積回路
(株)アドバンテスト研究所 阿部 峻佑 ほか
STT-MRAMテストのための新しい磁場印加メモリ・テスト・システム
営業本部 システムソリューション統括部 メモリSE部 GMS課 田村 亮 ほか
高電圧DC試験におけるディジタル制御技術の開発
ATEビジネスグループ テクノロジー開発本部 テクノロジー統括部 第8開発部 DCコア技術課 清水 貴彦 ほか
半導体試験装置製造のメトロロジー
Advantest Europe GmbH ATE Business Group 93000 Business Unit Piotr Skwierawski ほか

技術解説

タイトル/執筆者
M4841 空冷Active Thermal Control機能の開発
DH事業本部 DH開発統括部 DT開発部 先行技術開発課 山田 祐也 ほか
MIPI D-PHY/C-PHYに対応したCMOSイメージセンサ・キャプチャ・モジュールの開発
ATEビジネスグループ T2000事業本部 ADTプロダクトユニット ADT開発部 ISD開発課 有山 雄司

アプリケーション

タイトル/執筆者
8GDMによるC-PHY信号+ジッタ生成
営業本部 システムソリューション統括部 T2000 SE部 CIS課 鈴木 健吾