회사연혁 회사연혁

1950년대

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1954
  • 다케다 이쿠오(Ikuo Takeda)에 의해 도쿄의 이타바시구에 아드반테스트 설립(당시 Takeda Riken Industries로 알려짐)
  • 최초의 제품 Micro Micro Ammeter 출시
1957
  • 이타바시구의 오야구치초로 회사 이전
  • 일본 최초로 제작된 전자식 카운터 TR-124B 출시, 편의성을 위한 획기적인 도약으로 환영받으며 회사가 ‘Takeda Riken, 디지털 카운터 회사’로 널리 알려짐
1958
  • 일본의 초기 반도체 산업에서 점점 증가하는 전위계 수요에 대응하면서 일본 최초로 제작된 진동 용량 미소 전류 전위계 TR-81 출시
1959
  • 본사와 공장을 도쿄의 네리마구에 신축이전

1960년대

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1962
  • 세계에서 동급 최고 성능의 TR-3189 105 MHz 전자식 카운터 출시. 이 제품은 1962년 닛칸 코교 신문의 ‘10대 신제품’ 중 하나로 선정됨
1963
  • 직류 전압, 전기 저항, 교류 전압 및 주파수 측정을 위한 기능이 통합된 일본 최초의 디지털 전압계 제작•출시. 이 신제품은 ‘디지털 멀티미터’로 브랜드화됨
1967
  • 도쿄의 중심 업무 지구, 오테마치에서 회사의 첫 전시회인 ‘67년도 신제품 전시회’ 개최
1968
  • 사이타마현, 교다시에 신축 공장 건설이 완료됨
  • JEIDA(일본 전자공업진흥협회) 및 이와츠(IWATSU) 통신기 주식회사와 함께 착수한 공동 연구의 결과로 IC 테스터의 개발을 시작함
1969
  • 창립 15주년을 맞이하여 도쿄의 유명한 야에스 홀 전시회장에서 ‘Takeda Riken 신제품 전시회’ 개최

1970년대

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1970
  • 업계 최고 성능의 직접 계수 기능을 갖춘 1,000MHz 범용 카운터 TR-5599 출시
1971
  • 일본기계진흥협회(Japan Society for the Promotion of Machine Industries)의 요청으로 테스트 속도 10MHz의 일본 최초의 컴퓨터 제어 IC 테스트 장비 개발
  • 추적 조준경으로 알려진 주파수 축 범용 측정기 TR-4100을 출시하여 분광 분석기 사업 시작
1972
  • 새로 개발된 테스터가 LSI 테스트 시스템 T-320/20(일본 최초로 제작된 테스터)으로 출시됨. 10MHz 테스트 속도의 놀라운 속도로 찬사를 받음
1974
  • 회사 창립 20주년과 교다의 새 사옥 완공을 기념하여 교다 공장에서 ‘측정 및 컴퓨터 기술 박람회’ 개최
1975
  • 고토 미츠오(Mitsuo Goto)가 다케다 이쿠오(Ikuo Takeda)로부터 사장직을 인계받아 회사의 사장이 됨
  • 장치를 테스터에 자동 공급하는 도구인 최초의 동적 테스트 핸들러 개발
1976
  • 후지쯔사(Fujitsu Ltd.)의 새로운 자본금 투입으로 회사가 재편성되면서 새로운 혁신의 장을 예고함
  • 10MHz LSI 테스트 시스템 T-320/60 및 메모리 테스트 시스템 T-320/70과 T310/31 출시. T310/31은 전 세계에서 유일한 DRAM 테스터로 세계적인 성공을 거둠
1977
  • 가이와 리세이(Risei Kaiwa)가 회사 사장직에 임명됨
  • NASDA(일본 우주개발사업단, 지금의 JAXA)에 로켓 연료 연소 테스트용 측정기를 공급함으로써 일본 인공위성의 성공적인 발사에 기여함
  • LSI 테스트 시스템을 개발하여 일본기계진흥협회(Japan Society for the Promotion of Machine Industries)에서 수여하는 ‘쇼와 52 기계진흥협회상’ 수상
1978
  • NHK의 기술 지도를 받아 저렴한 소형 휴대용 분광 분석기 TR-4132를 개발—텔레비전 네트워크 인프라의 편리한 유지관리에 기여
1979
  • 회사 창립 25주년을 기념하여 도쿄와 오사카에서 ‘79년도 신제품 전시회’ 개최
  • 일본전신전화공사(지금의 NTT)의 무사시노 전기 통신 연구소의 기술 지도를 받아 업계 최고 성능의 VLSI 테스트 시스템 T-3380(비메모리 장치용) 및 T-3370(메모리 장치용)을 개발 - 둘 다 테스트 속도는 100MHz
  • 디지털 분광 분석기 TR-9305를 출시하여 오디오/진동 분석 시장에 진출

1980년대

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1980
  • 20MHz 메모리 시스템 T310/31E 및 40MHz 테스트 시스템 T-3331 출시. 1979년에 출시한 T-3330과 합쳐 20MHz ~ 100MHz 속도의 테스트 시스템 제품군이 갖추어짐
  • 이 T-3300 시리즈는 닛칸 코교 신문(Nikkan Kogyo Shimbun)의 ‘10대 신제품’ (1980년) 중 하나로 선정
1981
  • 다기능 ‘지능형 분광 분석기’ TR-4172를 출시. 이 제품은 통신 장비 제조업체에 의해 널리 채택됨
1982
  • 사사키 하지메(Hajime Sasaki)가 회사 사장직에 임명되고 가이와 리세이(Risei Kaiwa)는 회장으로 승격됨.
  • 미국 뉴저지 주에 자회사인 Takeda Systems, Inc.(지금의 Advantest America, Inc.)를 설립. 세계 시장을 대상으로 하는 전략적 제품 T-3340이 전 세계적으로 명성을 얻으며 판매됨
  • VLSI 테스트 장비 개발에 대해 일본전신전화공사(지금의 NTT)와 공동으로 ‘오코우치(Okochi) 기념상’ 수상
1983
  • 회사가 도쿄 증권거래소의 제2부 종목에 상장됨
  • 본사를 도쿄 신주쿠의 NS 건물로 이전
  • 독일 뮌헨에 Takeda Riken GmbH(지금의 Advantest Europe GmbH) 설립
  • 통신 및 소비자를 대상으로 하는 LSI 테스트용 아날로그 테스트 시스템 T3700 시리즈 및 CCD 이미지 센서 테스트용 T3155를 출시하여 반도체 테스트 장비 시장에 진출
  • 하나의 기기에 세 종류의 신호 발생기를 결합한 다기능 신호원 TR-4511을 출시하여 신호원 시장에 진출
1984
  • 군마현에 새 제조 공장인 ‘군마 공장’ 건설
1985
  • 도쿄 증권거래소의 제1 부 종목으로 승격
  • 회사명을 주식회사 아드반테스트(Advantest Corporation)로 변경
  • 시장 점유율로 세계 최고의 반도체 테스트 장비 제공업체로 등극
1986
  • 대한민국 서울에 동화 아드반테스트㈜(지금의 아드반테스트 코리아㈜) 설립
  • Advantest Singapore Pte. Ltd.를 설립해 동남아시아 지역으로 서비스를 확장
  • TQ8345 분광 분석기를 포함한 16기종의 광학 측정기를 출시하여 빠르게 확장되는 광학 통신 시장에 진출
1987
  • 사이타마현 오토네에 새로운 공장 개설(지금의 사이타마 R&D 센터)
  • ISDN 및 디지털 오디오 시스템에 사용되는 아날로그/디지털 IC용 혼합 신호 테스트 시스템 T7341 출시
  • 이동 통신 기기 및 비디오 녹화기 등에 사용되는 부품 및 회로의 고정밀 측정을 위한 R4611 네트워크 분석기 출시
1989
  • 오우라 히로시(Hiroshi Oura)가 사장으로 임명됨
  • 이동 통신 시장에서 R3261 분광 분석기가 인기 판매 제품이 됨

1990년대

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1990
  • 대만 신주(Hsinchu)에 Advantest Taiwan, Inc. 설립
  • 민간 기업으로는 세계 최초로 정밀한 계량과학적 측정을 위한 조셉슨 전압 표준계(Josephson Voltage Standard System) 설치 및 운영
1991
  • 미국 연구 기관 VLSI Research가 반도체 제조 장비 사용자를 대상으로 실시한 1990년도 고객 만족 설문조사에서 1위를 차지함
1992
  • 사업부제와 현금 흐름 경영을 도입함
  • 업계 최고의 해상도 LCD 드라이버 테스트 시스템 G4350(R&D용) 및 G4310(대량 생산용)을 출시하여 LCD 테스트 시장에 진출
1993
  • 아드반테스트 지구 환경 헌장을 발표
  • 공식적인 중국 시장 진출을 위해 회사의 제품 및 기술을 소개하는 행사인 ‘1993년 아드반테스트 북경 기술 세미나’를 북경에서 개최
  • 테스트 속도가 500MHz/1GHz로 업계 최고인 VLSI 테스트 시스템 T6691 출시
  • U4941(현장에서의 유지관리 용도로 사용하는 휴대용 RF 분광 분석기) 출시. 아드반테스트 제품 중에서는 최초로 통상산업성(지금의 경제산업성)으로부터 디자인상을 받음
1994
  • 기능을 모듈 블록화하여 소형화•경량화를 실현한 디지털 이동 통신 인프라용 기지국 분석기 R3465 개발
1995
  • 250MHz S-DRAM 메모리 테스트 시스템 T5581 출시. 인기 판매 제품이 됨
  • 성과주의에 기반한 인사 관리/평가 제도를 그룹 전체에 도입
  • 회사 웹사이트 최초 개설
1996
  • 아드반테스트 그룹의 전 세계 R&D 허브로 지정된 새로운 R&D 센터를 군마현에 개설
  • T6671B VLSI 테스트 시스템(이전 제품에 비해 바닥 공간이 4배나 감소하고 테스트 비용이 80% 감소됨)이 닛칸 코교 신문(Nikkan Kogyo Shimbun)이 후원하는 기계공업디자인상(Machine Design Awards)에서 통상산업 장관상을 수상
  • 0.18μm 크기로 실리콘 웨이퍼에 패턴을 에칭할 수 있는 높은 처리량의 전자빔 리소그래피 툴 F5120을 출시하여 반도체 제조 공정의 전 공정(front-end)으로 사업 영역을 확장
1997
  • EB 리소그래피 부서를 설립해 이 사업에 집중하기 시작
  • 테스트 속도가 500MHz/1GHz인 고성능, 고정밀 T5591 메모리 테스트 시스템 및 테스트 속도 1GHz, 최대 1,024핀의 업계 최대 성능을 자랑하는 T6682 LSI 테스트 시스템 출시
  • 시장 요구에 맞춰 설계된 저렴한 저사양 분광 분석기 R3131의 출시. 또 하나의 인기 판매 제품 탄생
  • 닛케이 신문(Nikkei Shimbun)의 ‘닛케이 우량 기업 랭킹(Nikkei Ranking of Excellent Companies)’에서 아드반테스트가 1위를 차지함
1998
  • 나가노 올림픽 동안 회사의 첫 TV 광고를 방송
  • 플리커 분석 시스템을 출시하여 애니메이션 TV 프로그램의 안전성에 기여
  • 2년 연속으로 닛케이 신문(Nikkei Shimbun)의 ‘닛케이 우량 기업 랭킹(Nikkei Ranking of Excellent Companies)'에서 1위를 차지함. 아드반테스트는 사업 운영 규모와 수익성 및 안정적 성장 전망에서 높은 평가를 받음
1999
  • 아드반테스트 행동 규범(직원 윤리 매뉴얼) 제정
  • 현금 흐름에 기반한 성과연계 상여금 제도 도입
  • 1995년에 개발된 이전 제품인 T6671에 비해 바닥 공간, 비용 및 처리량이 향상된 업계 최고의 LSI 테스트 시스템 T6672 출시
  • WDM 시장을 대상으로 하는 솔루션 제품군을 발표. 동급 최고의 Q7750 optoscope 및 Q8384 광학 분광 분석기로 입지 구축

2000년대

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2000
  • Asia Electronics, Inc.의 반도체 테스트 장비 부서 인수
  • EVA(Economic Value Added, 경제적 부가 가치) 지수에 기반한 AVA (아드반테스트 부가 가치) 지수를 개발하여 가치를 창출하고, ABCM(Activity Based Costing Management, 활동 기반 비용 관리)을 도입하여 직원 생산성 향상
  • Nikkei 225가 닛케이 평균 주가지수(Nikkei Average)를 구성하는 225개 주식 종목 중 하나로 아드반테스트를 선정함
  • 디지털 카메라에 사용되는 CCD 센서용 T8531 이미지 센서 테스트 시스템을 출시하여 이미지 센서 테스트 시장에 재진출
  • 능력주의에 기반한 책임성을 강조하는 새로운 인사 시스템을 도입
 
2001
  • Japan Engineering Co., Ltd.의 지분 인수
  • 마루야마 도시오(Toshio Maruyama)가 사장으로 취임함.
  • 아드반테스트가 뉴욕 증권거래소(NYSE)에 상장됨.
  • 군마 R&D 센터 2호 준공. 이 시설이 일본 최대의 생활권 중 하나에 포함됨
2002
  • 주식 상장 이후 최초의 영업 손실을 기록하고 철저한 업무 개혁에 착수함
  • 아시아 지역 고객을 대상으로 하는 서비스 강화를 목표로 기타큐슈 R&D 센터를 개설
  • 회사 사업의 통합 회계 결과를 계산하기 위해 미국 회계 표준 채택
2003
  • 분기별 수익 보고 시작
  • 적시(Just-In-Time) 생산 원칙에 기반한 제조 공정 시작
  • 개방형 구조 SoC 테스트 시스템 T2000 출시
  • 집행임원제도를 도입하고 관리직무에서 이사회를 분리하여 이사회의 직무 모니터링 및 감독을 강화함
  • T7721 고급 혼합 신호 테스트 시스템을 출시하여 자동화 장치 시장에 진출
  • 디지털 멀티미터 및 전압/전류 발생기를 포함한 일부 표준 측정 기기에 대한 R&D 및 제조권을 MBO 거래를 통해 ADC Corporation에 매각
2004
  • 회사 창립 50주년
  • 본사를 도쿄 마루노우치의 신마루노우치 센터 빌딩으로 이전
2005
  • 마스크 CD-SEM 사업에 진출
  • T5501 및 T5588 고성능 DRAM 메모리 테스트 시스템과 M6300 메모리 핸들러 출시
2006
  • 사외 이사 제도를 도입
2007
  • 센다이에 새 공장을 준공하고 테스트 시스템용 MEMS 스위치 제조 시작
  • VDEC(도쿄 대학에 위치한 VLSI Design and Education Center)의 캠퍼스 내에 아드반테스트 D2T 연구 부서를 설립
2008
  • 유럽의 자동차 반도체용 테스트 시스템 제조업체인 Credence Systems GmbH를 인수
  • MEMS 스위치로 일본 전기학회(Institute of Electrical Engineers of Japan, IEEJ) 상 수상
2009
  • 마츠노 하루오(Haruo Matsuno)가 사장으로 취임함
  • 회사 역사상 최대 손실을 기록하고 강도 높은 구조 조정과 재편성을 실시함
  • 새로운 글로벌 판매 구조인 "Account Sales Initiative"를 도입"
  • DDR3 대량 생산을 위한 메모리 테스트 시스템 T5503 출시

2010's

2010
  • 3D 테라헤르츠 이미징 및 분석 시스템 TAS7000 출시
2011
  • 미국의 반도체 테스트 장비 공급업체인 Verigy, Inc.를 인수
  • 동일본 대지진 발생. 지진의 진원지 근처에 위치한 센다이의 아드반테스트 시설은 며칠 후에 재가동을 시작함
  • 정제 약품 및 기타 의약품 분석용 테라헤르츠 분광 이미징 시스템 TAS7500 시리즈를 출시하여 제약 시장에 진출
  • 프로브 카드 공급 시작
  • 한국에서 핸들러 생산 시작
  • T5573 NAND 플래시 메모리 테스트 시스템 출시
  • 사이타마 고용 개발 협회가 아드반테스트 그룹이 전액을 출자한 자회사인 Advantest Green Corporation(AGC)을 ‘장애인 고용 우수 회사’로 인정하고 협회 회장상을 수여함
2012
  • CloudTesting ™ Service 사업을 시작, 주문형 테스팅 서비스로 새로운 시장을 개척
  • 국내외 인사 제도를 통일하여, 국가를 초월한 인사 교류와 인재 적재 적소의 배치를 촉진
2013
  • 미국 W2BI.COM 사를 인수하여 무선 시스템 레벨 테스트 시장에 진입
  • 대한민국 천안시에 신공장 준공하고 테스트 핸들러나 장치 인터페이스의 공급 체제를 확대
  • NAND 플래시 메모리, MCP용 테스트 시스템 "T5831"를 발매
  • NAND 플래시 메모리용 프로브 카드의 출하를 시작함
2014
  • Analog IC, Mixed Signal IC 용 측정 시스템 "EVA100"를 발매
  • SSD 용 테스트 시스템 "MPT3000"를 발매
  • 대표이사 겸 집행임원 사장 쿠로에 신이치로 취임
2015
  • 디스플레이 driver ICs용 테스트 시스템 “T6391” 발매
  • 4000번째 V93000 테스트 시스템 출하
  • 혈관의 비파괴 영상을 위한 “HadatomoTM” 음향 현미경 개발
2016
  • 회계기준을 US-GAAP에서 IFRS로 전환
  • MPT3000HVM SSD 테스트 시스템 출시, SSD 대량 생산용 테스트 시장 진출
2017
  • 신이치로 쿠로에(Shinichiro Kuroe) 사장님 후임으로 요시아키 요시다(Yoshiaki Yoshida)상이 사장 & CEO로 취임