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2015年5月27日から29日まで、東京ビッグサイトにて開催される「ワイヤレス・テクノロジー・パーク2015」に出展いたします。
展示ブースでは、サブテラヘルツ通信デバイスの材料評価に最適なテラヘルツ分光システム「TAS7500SL」を展示するほか、Sパラメータ解析や、プリント基板内配線の故障箇所を非破壊に特定、故障解析を行うシステム参考出展いたします。また、有料セミナーにて「テラヘルツ波計測技術によるデバイス・材料解析の最新動向」を発表いたします。
| 展示会名称 | ワイヤレス・テクノロジー・パーク 2015 |
|---|---|
| 会 期 | 2015年5月27日（水）28日（木） 10:00～18:00 2015年5月29日（金） 10:00～17:00 |
| 会 場 | 東京ビッグサイト 西3・4ホール |
| ブース番号 | 15-3-4 |
有料セミナー
| 日時 | 2015年5月28日（木） 12:00～12:50 |
|---|---|
| タイトル | テラヘルツ波計測技術によるデバイス・材料解析の最新動向 |
| 発表者 | （株）アドバンテスト テラヘルツシステム事業部 事業部長 今村 元規 |
＊詳細は、「ワイヤレス・テクノロジー・パーク」ウェブサイトをご参照ください。
http://www.wt-park.com/seminar_program.html#seminar_program_e
テラヘルツ分光システム TAS7500SL
・ テラヘルツ帯無線通信の材料開発などに適した低域（0.03～2THz）仕様
・ 調整不用で簡単な測定モジュール交換
・ 付属のドライエア・ユニットにより水蒸気の影響を受けずに測定可能
