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2015年7月22日から24日まで、東京ビッグサイトにて開催される「非破壊評価総合展」に出展いたします。

この展示会において当社は、テラヘルツ波を応用した新しい内部構造解析システムを出展します。本システムは、テラヘルツ波の物性透過性と高い深さ分布分解能により、電極膜や塗装膜、容器や外壁などさまざまな産業用内部構造解析が可能です。また、高速かつ多機能なイメージング解析機能も搭載しております。従来の分析装置やイメージング装置ではできなかった新しいソリューションをぜひご覧ください。