B6700系列

存储器老化测试机

未来伴随着半导体市场的显著增长，芯片制造商要求提供更快更大容量的老化测试解决方案以满足客户增长需求。
B6700系列测试机通过多个老化板同测，并以高达10MHZ速率去满足这些需求。
同时，通过嵌入爱德万测试开发多年的存储器测试功能模块，能实现测试与老化同时进行，这大幅改善了测试进程。

设备简介

B6700

B6700 可同测多达48片老化板并以高达10MHZ速率测试，这一优势不仅帮助存储器供应商更快得响应市场，发布最新产品，也可同时减少测试成本。
即使在高温下，通过提供高精度温控腔体，有效地改善良率。
同时，通过缩短温度上升时间和下降时间，有效降低总的测试时间。

B6700D：满足更高的吞吐率

通过使用高容量电源，B6700D可为每片老化板提供高达256amps 电流，较第一代B6700测试机高2倍。另外，B6700D相比B6700具有多达2倍的驱动引脚资源，使得B6700具备更高的测试频率和效率。
就像未来叠层NAND器件每Package 的Die数会增长一样，B6700D同样能保持高并行测试效率以满足高吞吐率。另外，当腔体温控在低达0.1精度操作时，B6700D老化炉也可精准复现操作条件。