T7912

模拟信号测试系统

MODEL IMAGE

低成本的通用逻辑和模拟信号芯片的测试

随着数字类家电，移动电话和办公自动化相关设备多元化应用的快速增长，带动了高速，高精度，多功能的通用逻辑芯片，通用模拟集成芯片，光电子芯片，和分立器件制造的快速发展。

T7912是一台基于这些芯片测试技术的模拟信号测试系统，支持性能评价测试以及大规模量产测试，满足了用户高质量和高性价比的测试需求。

根据用户需求，灵活配置系统

T7912可以在同一平台上，根据用户的不同需求，选择从最小化到最大化的优化配置。

并且在大规模量产时，支持多达八同测的高速/高精度测试。

Par-pin结构的高速DC测试

最高可达72pin的Par-pin结构的DC单元，可支持高速高精度模拟信号测试的完成。

测试程序生成工具

利用菜单式的芯片测试程序生成工具，使得测试程序的开发更简单。（可选软件）