制药应用：药片涂层厚度分析

药片涂层厚度

TAS7500IM系统从样品反射的太赫兹波，可以无损地分析药片的表面包衣厚度、药片内部结构和内层界面。

 

干粉压片的内部结构分析

TAS75000系列还可以对干粉压片进行非破坏性分析。

 

涂层密度和裂纹的相关性

比较两种相同形式的片剂的表面反射率，可以区分易于开裂的涂层（A）和耐裂纹涂层（B）。