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SoCテスト・システム

 

【テキスト】T2000プログラミング OTPL基礎

概要	T2000 System Software(TSS) R2.xxでOTPL言語を用いた簡単なテスト・プランの作成方法を修得する ※T2000テスト・システムを学習する上での入り口として位置づけられています。
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方
修得事項	T2000システムの概要、OTPLプログラミングの基本を習得
学習内容	ハードウエア概説／ソフトウエア概説 ピン定義 テスト・プラン・フロー DCコンタクト・テスト 入力リーク・テスト スタティックICCテスト ファンクション・テスト ダイナミックIDDテスト ACサーチテスト ビン定義 プリヘッダ・ファイル GUIツール テストパターン／パターンリスト／パターンGUIツール

【テキスト】T2000プログラミング テストクラス基礎

概要	T2000テスト・システムのテスト・クラス作成の基礎を習得
前提知識	トレーニングテキストの「T2000プログラミング OTPL基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方。 C++言語の基礎概念（クラス、継承、オーバーライド、オーバーロードなど）
修得事項	T2000テスト・システムのテスト・クラス作成の基礎を習得
学習内容	テスト・クラス概説 テスト・クラスを新規に作成 ファンクショナル・テストのテスト・クラスを作成 テスト・クラスに様々な機能を追加 テスト・クラスにテスト・パラメータを追加

【テキスト】T2000 ATCP Application Core

概要	T2000 System Software(TSS) R3.xxでGUIオペレーションを通し、OTPL言語を用いたテスト・プランの読み方、編集方法を修得する ※T2000テスト・システムを学習する上での入り口として位置づけられています。
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識 C++言語についての基礎的な知識
修得事項	T2000の基本オペレーション テスト・プランとテスト・クラス Test Program IDEの使い方 ATCPを使ったサンプル・プログラムの作成 ATCPテスト・クラスの概要 OTPLテスト・プランの文法／修正方法 テスト・クラスの文法／修正方法
学習内容	General Description of T2000 Hardware, Software Generate ATCP Package Light Simulation Mode (LSM) and Test Program IDE (TPIDE) ATCP Sample Program and Statistical Analysis Tool (SATool) Execute Functional Test and its Programming Pattern Editor, Test Condition Editor, WaveTool (Logic Analyzer) ATCP Test Class, ATF Kit Usage of RscUserVars, ValDUT Add Test Parameters to PreHeader

【テキスト】T2000 OTPL Core

概要	T2000 System Software(TSS) R3.xxでOTPL言語を用いた簡単なテスト・プランの作成方法を修得する ※T2000テスト・システムを学習する上での入り口として位置づけられています。
前提知識	デバイス試験の基礎知識を習得している方（DCコンタクト・テスト／ファンクショナル・テスト） ピン・エレクトロニクス、電源供給、パラメトリック測定やパターン生成を含むテスタ・ハードウェアと操作の基礎知識を習得している方 オブジェクト指向プログラミングを習得している方
修得事項	OTPLを使ったデバイス試験プログラムの、基本的な構成と編集に関する知識と操作
学習内容	Hardware Overview Software Overview OTPL Overview Pin Description File and Socket File Test Plan Flows DC Contact Test DPS150A Static ICC Test Functional Test 800Mbps Digital Module Pattern Generator Dynamic IDD Test Binning Script Based Command Pattern Lists

【テキスト】T2000 OTPL Inline Programming

概要	T2000テスト・システムを学習する上での入り口として位置づけられます。
前提知識	デバイス試験の基礎知識を習得している方（DCコンタクト・テスト／ファンクショナル・テスト） ピン・エレクトロニクス、電源供給、パラメトリック測定やパターン生成を含むテスタ・ハードウエアと操作の基礎知識を習得している方 オブジェクト指向プログラミングを習得している方
修得事項	OTPLを使ったデバイス試験プログラムの、基本的な構成と編集に関する知識と操作
学習内容	T2000ハードウエアの紹介 ソフトウエアとOTPLの紹介 ピン・ファイルとソケット・ファイル テスト・プラン・フロー DCコンタクト・テスト DPSの共通機能 スタティックICCテスト 1GDMの紹介 ファンクショナル・テスト ロジック・パターン ダイナミックIDD リミット・セット 外部トリガとVバンプ GUIツールの補足 ビン定義 スクリプト・ベースド・コマンド・ツール パターン・リスト
	注意事項 本コースは、T2000システム・ソフトウエア R3.02で対応された書式 (*1) を基に解説します。 このため、下記内容については触れません。下記内容は T2000 Basic OTPL コースで解説します。 – TestCondition, TestConditionGroupブロック (*1)：テスト・インスタンス・パラメータのインライン指定、インライン・パターン・リスト指定

【テキスト】T2000 IPS Core

概要	T2000テスト・システムで車載用・産業用及びパワーマネジメント用デバイスをテストするソリューションの基礎知識を習得する * T2000 IPS (Integrated Power device test Solution) T2000で車載用・産業用及びパワーマネジメント用デバイスをテストするソリューション
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	T2000テスト・システムで車載用・産業用及びパワーマネジメント用デバイスをテストするソリューションの基礎知識
学習内容	T2000 IPS Overview OTPL and ATCP IPS ATCP Generation DC Parametric Test with IPS Modules Threshold Search Test with IPS Modules Analog Measurement with IPS Modules Time Measurement with IPS Modules

【テキスト】T2000 ISSプログラミング基礎

概要	T2000および1.2GICAPでCMOSイメージ・センサの撮像試験をおこなうテスト・プログラムの作成方法を習得する * T2000 ISS (Image Sensor test Solution) T2000でCMOSイメージ・センサをテストするソリューション
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	OTPLを用いた撮像試験用テスト・プラン・プログラムの作成方法の習得 C++を用いた画像処理クラスの作成方法の習得
学習内容	デバイス概要 ハードウエア概要 T2000 システム・ソフトウエア概要 テスト・プログラム概要 ソケット・プログラムの作成 撮像試験用テスト・プラン・プログラムの作成 画像処理クラスの作成

【テキスト】T2000 ISS コア・コース（3GICAP編）

概要	T2000および3GICAPでCMOSイメージ・センサの撮像試験をおこなうテスト・プログラムの作成方法を習得する * T2000 ISS(Image Sensor test Solution) T2000でCMOSイメージ・センサをテストするソリューション
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	OTPLを用いた撮像試験用テスト・プラン・プログラムの作成方法の習得 C++を用いた画像処理クラスの作成方法の習得
学習内容	デバイス概要 ハードウエア概要 T2000 システム・ソフトウエア概要 テスト・プログラム概要 ソケット・プログラムの作成 撮像試験用テスト・プラン・プログラムの作成 画像処理クラスの作成

【テキスト】T2000 IMSプログラミング基礎

概要	T2000 IMSを使ってMCUをテストするプログラム作成方法を解説する * T2000 IMS (Integrated Massive parallel test Solution) T2000を使ってMCUをテストするソリューション
前提知識	MCUとMCUのテストについての基礎知識
修得事項	T2000 IMSを使ったOTPLプログラミング
学習内容	GUIのオペレーション T2000 IMSの概要 100MDMの仕様と特徴 OTPLプログラミング DCコンタクト・テスト ファンクショナル・テスト テスト・パターン アナログ・テスト

【テキスト】T2000プログラミング テストクラス応用（RF編）

概要	T2000のATF Kitを用いて主に12GWSGAモジュールやBBWGDモジュールを使用してRF測定をするテスト・クラスの作成方法を解説しています。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000プログラミング テストクラス基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方。 RF試験に必要な概念（周波数ドメイン、時間ドメイン、FFT）を理解されている方。
修得事項	T2000 12GWSGAモジュールを中心にした、RFデバイステストのためのテスト手法、テストクラスの作成方法、およびそのデバッグ方法を取得
学習内容	テスト・クラス・ウィザードを使用したRFテスト・クラスの作成概要 トランスミッタ出力試験 トランスミッタ隣接チャンネル漏洩電力試験 トランスミッタC/N試験 レシーバ出力レベル試験 レシーバIP3試験（付録 プログラム・コード） User_RFTxOutputPowerTestクラス User_RFTxACPTestクラス User_RFTxCNTestクラス User_RFRxOutPutPowerTestクラス User_RFRxIP3Testクラス テスト・プラン・ファイル

【テキスト】T2000プログラミング テストクラス応用（デジタル編）

概要	T2000テスト・システムにおいて、アドバンテストが提供するATF Kitを使用して、デジタル系の試験を行なうテスト・クラスを作成する方法について解説しています。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000プログラミング テストクラス基礎」相当の知識 C++言語の基礎概念（クラス、継承、オーバーライド、オーバーロードなど）
修得事項	ATF Kitを使用して、デジタル系の試験を行なうテスト・クラスを作成する方法
学習内容	ファンクショナル試験を実行する DCパラメトリック試験を実行する マージン試験とシュムー・プロットを実行する サーチ試験を実行する 平均電源電流試験を実行する データ・ログを出力する APIを使用するときの注意点

【テキスト】T2000プログラミング テストクラス応用（デジタル編） サンプル・プログラム集

概要	テスタ・トレーニング・テキスト「T2000プログラミング テストクラス応用（デジタル編）」の補助教材として作成されたサンプル・プログラム集です。 テスト・クラスの作成に必要なATF Kit APIを理解するためのサンプル・プログラムを提供します。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000プログラミング テストクラス基礎」相当の知識 C++言語の基礎概念（クラス、継承、オーバーライド、オーバーロードなど）
修得事項	ATF Kitを使用して、デジタル系の試験を行なうテスト・クラスを作成する方法
学習内容	ATFクラス・ライブラリの分類 ATFクラス・ライブラリを使用したサンプル・プログラム 付属ソース・コード

【テキスト】T2000 128ch 800Mbps デジタル・モジュール

概要	800MDM (128ch 800Mbps デジタル・モジュール) のOTPL言語での基本的な使用方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	800MDMの各種機能の基本的な使い方を習得
学習内容	概要 ファンクション試験の手順とプログラミング ダブル・データ・レートを使用するためのプログラム ピン・マルチプレクスを使用するためのプログラム スキャン・パターンを使用したファンクション試験 エッジ・シフトを使用したサーチ試験 DSRCを使用した任意波形の生成 VPPピンを使用したフラッシュメモリ試験 PPMU / CPMUを使用したDCパラメトリック試験 TIU (TESTER INTERFACE UNIT)

【テキスト】T2000 128ch 250Mbps デジタル・モジュール

概要	250MDM (128ch 250Mbps デジタル・モジュール) のOTPL言語での基本的な使用方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	250MDMの各種機能の基本的な使い方を習得
学習内容	概要 ファンクション試験の手順とプログラミング ダブル・データ・レートを使用するためのプログラム ピン・マルチプレクスを使用するためのプログラム スキャン・パターンを使用したファンクション試験 DSRCを使用した任意波形の生成 VPPピンを使用したフラッシュメモリ試験 PPMU / CPMUを使用したDCパラメトリック試験 TIU (TESTER INTERFACE UNIT)

【テキスト】T2000 32ch マルチパーパスパラメトリック測定ユニット

概要	PMU32 (32ch マルチパーパス・パラメトリック測定ユニット) のOTPL言語での基本的な使用方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	PMU32の各種機能の基本的な使い方を習得
学習内容	概要 DCパラメトリック試験を行う 電圧源として使う アナログ波形発生器として使う アナログ波形デジタイザとして使う TIU (TESTER INTERFACE UNIT)

【テキスト】T2000 16ch オーディオ任意波形発生器／デジタイザ・モジュール

概要	AAWGD (16ch オーディオ任意波形発生器／デジタイザ・モジュール) のOTPL言語での基本的な使用方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	AAWGDの各種機能の基本的な使い方を習得
学習内容	概要 任意波形発生器を使い正弦波を発生させる デジタイザを使い波形を取得する DCパラメトリック試験 TIU (TESTER INTERFACE UNIT)

【テキスト】T2000 16ch ベースバンド任意波形発生器／デジタイザ・モジュール

概要	BBWGD (16ch ベースバンド任意波形発生器／デジタイザ・モジュール) のOTPL言語での基本的な使用方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	BBWGDの各種機能の基本的な使い方を習得
学習内容	概要 任意波形発生器を使い正弦波を発生させる デジタイザを使い波形を取得する DCパラメトリック試験 TIU (TESTER INTERFACE UNIT)

【テキスト】T2000 12GHz 広帯域信号発生／測定モジュール

概要	12GWSGA (12GHz 広帯域信号発生／測定モジュール) のOTPL言語での基本的な使用方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	12GWSGAの各種機能の基本的な使い方を習得
学習内容	12GWSGAの概要 RF SoCデバイスのRF測定原理 RF SoCデバイスのテストプラン 出力電力を測定する 最大利得を測定する

【テキスト】T2000 超高電圧源2000Vモジュール

概要	SHV2KV（超高電圧源2000Vモジュール）のOTPL言語での基本的な使用方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	SHV2KVの各種機能の基本的な使い方を習得
学習内容	T2000 IGBT/IPSとは SHV2KVモジュールの概要 SHV2KVモジュールの機能 SHV2KVモジュールのソフトウエアとプログラミング SHV2KVモジュールの使用例 SHV2KVモジュールの仕様

【テキスト】T2000 64ch Device Power Supply 90A

概要	DPS90A (64ch デバイス電源 90A) のOTPL言語での基本的な使用方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	DPS90Aの各種機能の基本的な使い方を習得
学習内容	DPS90A Summary DPS90A Specifications Programming DPS90A Introduction Programming DPS90A VSIM Programming DPS90A ISVM Programming DPS90A VSVM KELVIN Programming DPS90A SLEW RATE Programming DPS90A AVERAGE Programming DPS90A TRACE Programming DPS90A VBUMP Programming DPS90A RIPPLE ATF_DCParametricPowerSupplyTest VSIM Hardware Test Plan Datalog

【テキスト】T2000 256ch 1Gbps Digital Module

概要	1GDM (256ch 1Gbps デジタル・モジュール) のOTPL言語での基本的な使用方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T2000 OTPL Core」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	1GDMの各種機能の基本的な使い方を習得
学習内容	Overview Major Features Resources Major 1Gbps Digital Module Components - Frame Processor - Rate Generator - Timing Generator - Pattern Generator Enhanced Performance Package Timing and 32 Waveform Select capability Double Data Rate Pin Multiplex Achieving 1Gbps Data Rate Edge Shift PMU Licensing Advanced Feature Preview

【テキスト】T2000 8Gsps Waveform Generator / 8GHz Digitizer Module

概要	OTPL言語を使った8GWGD（8Gsps 任意波形発生器／8GHz デジタイザ・モジュール）の使用方法を習得する
前提知識	アナログ・デバイス試験の基本原理 BBWGDを使ったOTPLのプログラミング、または同等の知識
修得事項	8GWGDの特徴の実用的な使い方
学習内容	Outline of 8GWGD Module Analog test using 8GWGD Arbitrary Waveform Generation Waveform Acquisition Using Digitizer Trigger Control for Generating and Acquiring Arbitrary Waveforms Data calculation and measurement example Advantest Performance Licensing (aPAL)

【テキスト】T6600シリーズ TDLプログラミング基礎

概要	TDLを用いたテスト関数形式による簡単なプログラム作成方法の習得
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 UNIXの基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	TDLを用いたテスト関数形式による簡単なプログラム作成方法の習得
学習内容	ハードウエア概要／ソフトウエア概要 デバイスピン定義 DCパラメトリックテストのテストアイテム作成 パターンプログラム ファンクション試験のテストアイテム作成 パターンを使用するDCパラメトリックテストのテストアイテム作成

【テキスト】T6600シリーズ 同時測定プログラミング

概要	複数個同時測定プログラムの作成方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T6600シリーズ TDLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	複数個同時測定プログラムの作成方法の習得
学習内容	同時測定概説 同時測定のプログラム 同時測定関係のプログラミング

【テキスト】T6600シリーズ Siteseerオペレーション

概要	Siteseerの操作方法とTDLプログラムの生成方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T6600シリーズ TDLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	Siteseerの操作方法とTDLプログラムの生成方法の習得
学習内容	Siteseerの概説 テストプラン作成 テストプランのデバッグ ファイルの生成

【テキスト】T6600シリーズ Siteseer試験アルゴリズム

概要	Siteseerの環境と試験アルゴリズムの構成を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T6600シリーズ TDLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	Siteseerの環境と試験アルゴリズムの構成の習得
学習内容	試験アルゴリズム概説 アルゴリズム書式 オプティマイザとアルゴリズム書式 その他のアルゴリズム書式 試験アルゴリズムとTDLプログラム Siteseerのカスタマイズ

【テキスト】T6600シリーズ Viewpointデバッグ

概要	デバイス試験プログラムのデバッグ作業の基本的な流れ。 主にViewpointツールの活用方法、高信頼性のための試験内容見直しポイントを習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T6600シリーズ TDLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	デバイス試験プログラムのデバッグ作業の基本的な流れ 主にViewpointツールの活用方法、高信頼性のための試験内容見直しポイントの習得
学習内容	フェイル対処の基本テクニック 試験内容の見直し

【テキスト】アナログデバイス試験入門 ＜AC編＞

概要	動特性試験概要、正弦波形の変換方法、SN比、THDの算出方法の習得
前提知識	トレーニングテキストの「T6600シリーズ ミクスド標準 アナログDC基礎編」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	動特性試験概要、正弦波形の変換方法、SN比、THDの算出方法の習得
学習内容	動特性試験とは？ 正弦波形の変換方法 SN比、THDの算出

【テキスト】T6600シリーズ ミクスド標準 アナログDC基礎編

概要	T6600シリーズ テスト・システムのミクスド・シグナル・オプションの使用方法を習得する。
前提知識	A/DコンバータやD/Aコンバータについての基礎的な知識をお持ちの方
修得事項	T6600シリーズ テスト・システムのミクスド・シグナル・オプションの基礎知識の習得
学習内容	システム概要 A/Dコンバータの直線性試験 D/Aコンバータの直線性試験 LSYNCとDAW 配列演算関数

【テキスト】T6600シリーズ ミクスド標準 アナログAC基礎編

概要	T6600ミクスド・シグナル・オプションであるVFG/VFDのしくみ、ADC/DACのアナログAC試験プログラムの内容、T6672/73のミクスド・シグナル・オプションのしくみを習得する。
前提知識	A/DコンバータやD/Aコンバータについての基礎的な知識をお持ちの方
修得事項	T6600ミクスド・シグナル・オプションであるVFG/VFDのしくみ ADC/DACのアナログAC試験プログラムの内容 T6672/73のミクスド・シグナル・オプションのしくみ
学習内容	ビデオ系ハードウエアのしくみ A/Dコンバータの直線性試験 D/Aコンバータの直線性試験 T6672/73のミクスド・シグナル・オプション

【テキスト】T6600シリーズ ALPGプログラミング

概要	T6600シリーズVLSIテスト・システムのALPG使用方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T6600シリーズ TDLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	T6600シリーズVLSIテスト・システムのALPG使用方法を習得
学習内容	ALPG概説 ALPGプログラミング AFMプログラミング メモリパターンの作成

【テキスト】T6600シリーズ ALPGプログラミング（ALPGコンカレント）

概要	T6600シリーズ、特にT6672 VLSIテスト・システムのALPGをコンカレントモードで使用する方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T6600シリーズ TDLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	T6600シリーズ、特にT6672 VLSIテスト・システムのALPGのコンカレントモードでの使用方法の習得
学習内容	ALPG概説 ALPGプログラミング AFMプログラミング メモリパターンの作成

【テキスト】T6500シリーズ アナログ・オプション T65x3, T65x5編

概要	T65x3, T65x5テスト・システムのアナログ・オプションの使用方法の習得
前提知識	A/DコンバータやD/Aコンバータについての基礎的な知識をお持ちの方
修得事項	T65x3, T65x5テスト・システムのアナログ・オプションの基礎知識の習得
学習内容	システム概要 A/Dコンバータの直線性試験 D/Aコンバータの直線性試験

【テキスト】T6500シリーズ アナログ・オプション T65x7編

概要	T65x7テスト・システムのアナログ・オプションの使用方法を習得する。
前提知識	A/DコンバータやD/Aコンバータについての基礎的な知識をお持ちの方
修得事項	T65x7テスト・システムのアナログ・オプションの基礎知識の習得
学習内容	システム概要 A/Dコンバータの直線性試験 D/Aコンバータの直線性試験

【テキスト】T6500シリーズ アナログ・オプション 付属編

概要	代表的な配列演算関数の種類と書式、T6500アナログ・オプションの機種間の互換性、T6600ミクスド・オプションとの互換性を習得する。
前提知識	A/DコンバータやD/Aコンバータについての基礎的な知識をお持ちの方 トレーニングテキストの「T6600シリーズ TDLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	代表的な配列演算関数の種類と書式 T6500アナログ・オプションの機種間の互換性 T6600ミクスド・オプションとの互換性
学習内容	配列演算関数 T6500機種間でのプログラム変換 T6600ミクスド・オプションとのプログラムの違い

LCDデバイス・テスト・システム

 

【テキスト】T6300シリーズ LCDテスタ基礎

概要	T6300シリーズ LCDドライバ・テスト・システムのプログラミング手法の習得
前提知識	トレーニングテキストの「T6600シリーズ TDLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	LCDドライバICのプログラミング手法の習得
学習内容	ハードウエア概要／ソフトウエア概要 LCDピンのDCパラメトリック試験 LCDドライバ電圧の試験（LCDコンパレータ） LCDドライバ電圧の試験（MDGT）

アドバンスド・ミクスドシグナル・テスト・システム

 

【テキスト】T7700シリーズ AMSテスタ基礎

概要	TDLを用いたテスト関数形式による簡単なプログラムの作成方法やViewpointのオペレーションの基礎を習得する。
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 UNIXの基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	TDLを用いたテスト関数形式による簡単なプログラムの作成方法 Viewpointのオペレーションの基礎
学習内容	ハードウエア概要／ソフトウエア概要 テスト・プランの作成とシンボル名定義 テスト・アイテム作成（DCパラメトリック・テスト） テスト・アイテム作成（ダイナミック・ファンクショナル・テスト） TDLフレームワーク作成

【テキスト】T7700シリーズ ミクスド標準 アナログDC基礎編

概要	T7700シリーズのミクスド・シグナル・オプションのしくみ、アナログDC試験のプログラム内容（A/DコンバータとD/Aコンバータ）を習得する。
前提知識	A/DコンバータやD/Aコンバータについての基礎的な知識をお持ちの方
修得事項	T7700シリーズのミクスド・シグナル・オプションのしくみ アナログDC試験のプログラム内容（A/DコンバータとD/Aコンバータ）
学習内容	システム概要 A/Dコンバータの直線性試験 D/Aコンバータの直線性試験 配列演算関数

【テキスト】T7700シリーズ ミクスド標準 アナログAC基礎編

概要	T7700シリーズのミクスド・シグナル・オプションのしくみ、アナログAC試験のプログラム内容（A/DコンバータとD/Aコンバータ）を習得する。
前提知識	A/DコンバータやD/Aコンバータについての基礎的な知識をお持ちの方
修得事項	T7700シリーズのミクスド・シグナル・オプションのしくみ アナログAC試験のプログラム内容（A/DコンバータとD/Aコンバータ）
学習内容	A/DコンバータのアナログAC試験 D/AコンバータのアナログAC試験

メモリ・テスト・システム

 

【テキスト】FutureSuite MCI プログラミング基礎

概要	オペレーティングシステムFutureSuiteを搭載したT5300/T5500シリーズ テスト・システムにおけるMCI (Macro Control Interface) を用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラム作成方法を習得する。
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 UNIXの基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	MCIを用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラム作成方法の習得
学習内容	概要 MCIテストプランの基本構成 デバイスピン定義 入力電流測定 電源電流測定 ファンクション試験 キャリブレーション パターンプログラム プログラム実行方法

【テキスト】T5300/T5500シリーズ ATLプログラミング基礎（DDR編）

概要	DDR-SDRAMを題材としてATL (Advanced Test Language) を用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラム作成方法を習得する
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 UNIXの基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	ATLを用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラムの作成方法の習得
学習内容	ハードウエア概要 ソフトウエア概要 DCパラメトリック・テスト ファンクション・テスト

【テキスト】T5300/T5500シリーズ ATLプログラミング基礎（FLASH編）

概要	NAND FLASHを題材としてATL（Advanced Test Language）を用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラム作成方法を習得する
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 UNIXの基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	ATLを用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラムの作成方法の習得
学習内容	ハードウエア概要 ソフトウエア概要 DCパラメトリック・テスト ファンクション・テスト

【テキスト】T5831 ATLプログラミング基礎

概要	オペレーティング・システムFutureSuiteを搭載したT5831において、NAND FLASHを題材としてATL（Advanced Test Language）を用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラム作成方法を習得する
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 Linux（centOS）の基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	ATLを用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラムの作成方法の習得
学習内容	ハードウエア概要 ソフトウエア概要 DCパラメトリック・テスト ファンクション・テスト プログラムの実行方法 ソケット・プログラム

【テキスト】T5831 MCIプログラミング基礎

概要	オペレーティング・システムFutureSuiteを搭載したT5831において、NAND FLASHを題材としてMCI (Macro Control Interface) を用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラム作成方法を習得する
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 Linux（centOS）の基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	ATLを用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラムの作成方法の習得
学習内容	概要 MCIテスト・プランの基本構成 デバイス・ピン定義 入力電流測定 電源電流測定 ファンクション試験 パターンプログラム プログラムの実行方法 ソケット・プログラム

【テキスト】T5300/T5500シリーズ ATLプログラミング手法

概要	ATL (Advanced Test Language) を用いたAFMやフラッシュメモリ測定機能など比較的よく使用するテスタの特殊な機能を使ったプログラム作成方法を習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T5300/T5500シリーズ ATLプログラミング基礎」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	ATLを用いた比較的よく使用するテスタの特殊な機能を使ったプログラム 作成方法の習得
学習内容	RTTC機能・FPジェネレータ機能 フラッシュメモリ測定機能 アドレスフェイルメモリの使い方 バッドブロックメモリ機能 バースト機能 リードモディファイライト試験 時間測定プログラム ページモード試験 電圧測定プログラム リフレッシュ試験 Zレジスタの使い方 ポーズタイム試験 領域反転機能

【テキスト】T5700シリーズ プログラミング基礎

概要	オペレーティングシステムFutureSuiteを搭載したT5700シリーズ テスト・システムにおけるMCI (Macro Control Interface) を用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラム作成方法を習得する。
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 UNIXの基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	MCIを用いたDCテスト、ファンクションテストのプログラム作成方法の習得
学習内容	システム概要 ハードウエア概要／ソフトウエア概要 テスト・プラン構成 MCIテスト・プランの基本構成 DCテスト 入力電流測定、電源電流測定 ダイナミック・ファンクショナル・テスト メイン・プログラム／パターン・プログラム／ALPGの動作

ロジック・テスト・システム

 

【テキスト】T3300シリーズ プログラミング標準コース ＜必修基礎編＞

概要	T3300シリーズ VLSIテスト・システムのしくみや操作方法、プログラムを習得する。
前提知識	ICやICの試験についての基礎的な知識をお持ちの方 UNIXの基本オペレーションの知識をお持ちの方
修得事項	T3300シリーズ VLSIテスト・システムのしくみや操作方法、プログラム作成方法の習得
学習内容	概説 DCパラメトリックテスト ダイナミックファンクションテスト その他のプログラミング パフォーマンス・ボード オペレーション

【テキスト】T3300シリーズ プログラミング標準コース ＜続基礎編＞

概要	T3300シリーズ VLSIテスト・システムの使い方をより深く習得する。
前提知識	トレーニングテキストの「T3300シリーズ プログラミング標準コース ＜必修基礎編＞」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	T3300シリーズ VLSIテスト・システムのより深い使用方法の習得
学習内容	RTTC機能 電圧測定プログラム ピン・マルチプレクス ON分岐 I/Oコントロール バースト・データ転送 マッチ・モード マクロDC試験 時間測定プログラム DMACROの使い方

【テキスト】T3300シリーズ ALPG/DBMプログラミング

概要	T3300シリーズのALPG/DBMオプションを使ったメモリ試験の方法とそのプログラムの解説
前提知識	トレーニングテキストの「T3300シリーズ プログラミング標準コース ＜必修基礎編＞」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	ALPG/DBMオプションの概要とプログラミング
学習内容	ALPG/DBM概説 メモリ試験の考え方 スキャン・パス方式 マクロROM試験 メモリ混在ロジックLSI試験の考え方 メモリ試験のプログラミング DBMのプログラミング AFMのプログラミング

【テキスト】T3300シリーズ 同時測定プログラミング

概要	T3300シリーズでステーション内／ステーション間同時測定を行う方法とそのプログラムの解説
前提知識	トレーニングテキストの「T3300シリーズ プログラミング標準コース ＜必修基礎編＞」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	カウンタデバイスを例にとり、単数個測定プログラムを同時測定プログラムに展開する方法
学習内容	同時測定の考え方 ソケット・プログラムの役割 同時測定プログラムへの展開に必要なこと DCパラメトリック・テストの同時測定例 ダイナミック・ファンクショナル・テストの同時測定例 カテゴリ・テーブルとソート・テーブル 同時測定時のユーティリティ・プログラムの使い方

【テキスト】T3300シリーズ ADCテストオプション・プログラミング

概要	T3300シリーズのADCテスト･オプションを使ったA/Dコンバータの試験方法とそのプログラムの解説
前提知識	トレーニングテキストの「T3300シリーズ プログラミング標準コース ＜必修基礎編＞」を学習された方、または同等の知識をお持ちの方
修得事項	ADCテスト･オプションの概要と仕様の理解 ADCテスト･オプションによるアナログ電圧の発生方法 DCAP (Digital Data Capture Memory) によるデジタル出力コードの測定方法
学習内容	ADCテスト・オプションの概要と仕様 アナログ入力電圧の発生 出力コードの測定 特性データを求める演算 7bit A/Dコンバータの試験プログラム例 デバッグに使用するユーティリティ