Probo No.42 (2014年7月発行) Probo No.42 (2014年7月発行)

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* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。

技術論文

タイトル/執筆者
30Gb/s光LSIの量産向けテスト手法の提案
テクノロジー開発本部 第5開発部 渡邊 大輔 ほか
タイミング雑音をオフ・チップ/オン・ダイで測定するための新しい方法
株式会社アドバンテスト研究所 山口 隆弘 ほか
ATEによるポストシリコンデバッグ ~量産試験の工期短縮の提案
SoCテスト事業本部 ビジネス・ディベロップメント部 佐原 厚生

技術解説

タイトル/執筆者
次世代NANDフラッシュ・メモリ測定技術
Advantest America, Inc. Product Marketing Ken Hanh Lai