Probo No.42 （2014年7月発行）
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* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。
技術論文
| タイトル／執筆者 |
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| 30Gb/s光LSIの量産向けテスト手法の提案 テクノロジー開発本部 第5開発部 渡邊 大輔 ほか |
| タイミング雑音をオフ・チップ/オン・ダイで測定するための新しい方法 株式会社アドバンテスト研究所 山口 隆弘 ほか |
| ATEによるポストシリコンデバッグ ～量産試験の工期短縮の提案 SoCテスト事業本部 ビジネス・ディベロップメント部 佐原 厚生 |
技術解説
| タイトル／執筆者 |
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| 次世代NANDフラッシュ・メモリ測定技術 Advantest America, Inc. Product Marketing Ken Hanh Lai |