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Probo No.45 (2015年12月発行) Probo No.45 (2015年12月発行)

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* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。

技術論文

タイトル/執筆者
エピタキシャルPLZT薄膜を用いた集積型機能素子の開発
株式会社アドバンテスト研究所 Оプロジェクト 川崎 俊史 ほか
QAM信号インターフェイスのリアルタイム・ファンクション試験を可能とするATEシステムの提案
テクノロジー開発本部 第5開発部 FTテクノロジー開発2課 一山 清隆 ほか

アプリケーション

タイトル/執筆者
テストハンドラにおける高精度ビジョンアライメント機能の開発
FA事業部 FA商品開発部 先行技術開発課 小野澤 正貴 ほか
T2000におけるアナログ半導体試験プログラム生成環境
SoCアプリケーション・エンジニアリング T2000 AE 高橋 明 ほか