Probo No.45 (2015年12月発行)
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* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。
技術論文
タイトル/執筆者 |
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エピタキシャルPLZT薄膜を用いた集積型機能素子の開発 株式会社アドバンテスト研究所 Оプロジェクト 川崎 俊史 ほか |
QAM信号インターフェイスのリアルタイム・ファンクション試験を可能とするATEシステムの提案 テクノロジー開発本部 第5開発部 FTテクノロジー開発2課 一山 清隆 ほか |
アプリケーション
タイトル/執筆者 |
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テストハンドラにおける高精度ビジョンアライメント機能の開発 FA事業部 FA商品開発部 先行技術開発課 小野澤 正貴 ほか |
T2000におけるアナログ半導体試験プログラム生成環境 SoCアプリケーション・エンジニアリング T2000 AE 高橋 明 ほか |