Probo No.47 （2017年1月発行）
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* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。
技術論文
| タイトル／執筆者 |
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| 大型薄型高出力デジタルデバイスのKGD（Known-Good-Die）テスト手法 Advantest, Inc. San Jose, CA, USA Dave Armstrong ほか |
| 微小接点における接触抵抗のモデル化 株式会社 アドバンテスト研究所 田中 武 ほか |
アプリケーション
| タイトル／執筆者 |
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| EVA100を用いたServo手法によるADCのリニアリティ測定 ASDテスト&計測システム事業本部 ASD計測システム開発部 加藤 弘晃 |
| EVA100 High Frequency AWG/DGT モジュールによる高速高精度ADC試験 テクノロジー開発本部 第9開発部 倉持 泰秀 ほか |
| 超高分解能TDRシステムを用いた高密度LSI故障解析 テラヘルツシステム事業部 システム開発部 システム開発課 橋本 昌一 ほか |