No.50 (June, 2018)
Proboをご閲覧いただくためには登録が必要です。
下記のボタンよりご登録をお願いいたします。
* 執筆者の所属/役職などは掲載当時のものです。冊子版Proboから構成を一部変更し掲載しております。
技術論文
| タイトル／執筆者 |
|---|
| (Pb,La) (Zr,Ti)O3薄膜を用いた光集積回路 株式会社 アドバンテスト研究所 阿部 峻佑 ほか |
| 生体皮膚のイメージングを目的としたレンズレス高分解能光超音波顕微鏡 新企画商品開発室 第2開発グループ STOプロジェクト 伊田 泰一郎 ほか |
| CloudTesting™ Serviceを使用した遅延故障テスト Advantest America Inc A.T.Sivaram ほか |
アプリケーション
| タイトル／執筆者 |
|---|
| デジタルモジュールを使ったUHF Tag RF I/Fの多数個同測テスト手法 営業本部 システムソリューション統括部 第1SoC システム・エンジニアリング SoC SE1 家泉 和広 ほか |
| EVA100 磁気印加方式による電流センサ調整・検査の提案 ADS Marketing and Business Development部 中村 重男 ほか |