No.52 (July, 2019)
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技術論文
| タイトル／執筆者 |
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| 回帰回路モデリングによるBack-end-of-line(BEOL)の高精度TDR解析 Advantest (Singapore) Pte .Ltd. Marketing & New Product Department Yang Shang ほか |
技術解説
| タイトル／執筆者 |
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| 最大320V、18チャンネル高電圧大電流フローティング・モジュールの開発 事業推進本部 テクノロジー統括部 第8開発部 DC開発1課 武田 重幸 ほか |
アプリケーション
| タイトル／執筆者 |
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| デバイス試験中の熱スパイク低減のためのテストセルソリューション 営業本部 システムソリューション統括部 第2SoC システム・エンジニアリング SoC SE3 吉野 貴俊 ほか |
| V93000 WaveScale RFによるVerizon 5G規格に準拠した次世代ミリ波通信用RFデバイス試験の紹介 Advantest America, Inc. Max Seminario ほか |
| SmarTest8におけるテストプログラム実行時間の解析と最適化 Advantest China Co., Ltd. ADVANTEST Business Development&Center of Expertise, Asia Zexin Yan ほか |