inteXcell

メモリ・テスト・システム

メモリICはパソコンやスマートフォン、データセンタそして自動車など、多くの分野で使われています。それぞれの分野での高性能化は目覚ましく、今後のメモリICには多機能化や高い品質が求められています。

inteXcellシリーズは、メモリIC試験工程に求められる様々な厳しいテスト条件に応える非常に柔軟なシステムアーキテクチャと、幅広いテスト機能と高スループット処理を合わせ持つ、統合テストセルソリューションです。

inteXcellの代表的な特徴はテストセル構造です。エンジニアリング用途から大量生産まで、同一のプラットフォームにてスケーラブルなデバイス試験環境を提供します。

inteXcellテストセルは、4セル構成で最大1536個同時測定、1セルあたり最大384個同測が可能です。セル構造は非常にコンパクトにデザインされており、床面積は従来テストシステムの1/3を実現しました。各セルは1～4セルのさまざまな構成で配置することができ、独立した非同期テストが可能です。また、合理化されたセルベースのメンテナンスも可能にし、システムの高い稼働率を実現します。

inteXcellは、メモリIC試験工程における多くの課題に向けたソリューションを用意しています。
新しい小型チャンバ構造は、効率的かつ高精度の温度試験環境(温度範囲 -40℃～125℃、-55～150℃:オプション)を提供します。新機能である自動位置補正機能や品種交換キットのワンタッチ化などにより、メンテナンス性向上とダウンタイム削減を実現します。また、マシン状態監視ソフトウェアを搭載し、装置内の搬送系・温度系メンテンナンスデータの一括管理と、AI解析による予知保全アナウンス機能への展開が可能です。さらに、自動走行ロボット（AGV、OHT）の運用サポートにより、テスト工程の生産効率を向上します。