JASIS 2016
2016年9月7日から9日まで、幕張メッセ国際展示場にて開催される「JASIS2016」に出展いたします。
この展示会において当社は、テラヘルツ（THz）波による高速かつ多機能な分光とイメージングが可能な解析システムをはじめ、ＩＣパッケージ、プリント基板内の配線故障箇所を高分解能で解析できるシステムなど、さまざまな産業用内部構造解析が可能なシステムも展示いたします。また、幕張メッセ隣りのアパホテル＆リゾートにおいて、解析技術に関する新技術説明会を開催いたします。皆様のお越しを心よりお待ち申し上げます。
| 展示会名称 | JASIS2016 |
|---|---|
| 会 期 | 2016年9月7日（水）～2016年9月9日（金） 10:00～17:00 |
| 会 場 | 幕張メッセ国際展示場 |
| ブース番号 | 5A-307 |
新技術セミナーのご案内
| テーマ名 | テラヘルツ波を用いた新しい分光・イメージング解析技術 |
|---|---|
| 会 場 | アパホテル＆リゾート（東京ベイ幕張） |
| 日時／部屋番号 |
|
| 定 員 | 100名 |
| 聴講料 | 無料 |
主な展示品
TS9000シリーズ TDRオプション
当社独自の短パルス発生技術による高分解能のTDR/TDT（時間領域反射/測定）測定により、ICパッケージ、電子部品、プリント基板内配線の故障箇所や伝送特性を高速高精度で非破壊解析するシステムです。
テラヘルツ分光システム 「TAS7400シリーズ」
「TAS7400シリーズ」
と温度制御モジュール
テラヘルツ波による多様な分光測定が可能なローコスト汎用タイプの分光システムです。テラヘルツ波特有の取り扱いや環境設定を意識することなく容易な分光測定を提供します。加えて、簡単な測定モジュールの切リ替えにより、液体から固体までの様々な剤型に応じた分光測定と物理化学特性の解析が可能になります。
温度制御モジュール（オプション）
テラヘルツ分光システムの透過モジュールに追加することで、高温/低温の試料測定を行うことができます。温度可変範囲は以下の２タイプを用意しております。
TAS1020 ： -10℃ ～ 80℃ (設定分解能： 0.1℃)
TAS1030 ： 室温 ～ 300℃ (設定分解能： 1.0℃)
また、ドライエアパージ機能で低温時の結露を防止します。
